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天博官网-探测器光谱/辐射响应性能测试装置

作者: 日期:2018-01-04 人气:4626

1)主要技术参数:

²中心波长精度:优于±1nm;

²峰值波长精度:优于±1nm;

²光谱带宽测量精度:优于±0.5nm;

²相对光谱响应度测量精度:优于±2%;

²非均匀性标定误差:优于±1%;

²像素不均匀性测量精度:1%;


2)应用领域:

²线/面阵/TDI CCD以及CMOS等阵列光电探测器的光谱/辐射响应性能测试和标定。


3)成功应用案例:

²中科院新疆某研究所

²航天某院某研究所

²西北某大学


4)产品实物图片:

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↑↑ 航天某院某所敏感器大面阵CCD关键参数测量系统实物图片

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↑↑ 中科院新疆某研究所CCD光电参数测试设备实物图片


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↑↑ 红外探测器光谱响应测试系统原理/结构图

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↑↑ 红外探测器光谱响应测试系统实物图片


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